فیزیکدان آلمانی، ماکس فون لائو نشان داد که پرتوهای ایکس در داخل کریستال‌ها دچار شکست و انکسار می‌شوند و الگو‌های خاصی روی فیلم عکاسی ایجاد می‌کنند. او به کمک یک آزمایش نشان داد که پرتوهای ایکس ماهیتی موج مانند دارند و همچنین کریستال‌ها، ساختاری شبکه‌ای دارند. اما در آن هنگام، یک چیز هنوز دقیقا مشخص نبود، اینکه آیا ساختار کریستال‌ها و طول موج پرتوهای ایکس، تاثیری روی این الگوها دارند یا خیر؟ ارتباط این موارد با یکدیگر به توسط ویلیام هنری براگ و پسرش، ویلیام لورنس براگ کشف شد. ویلیام لورنس براگ، معادله‌ی بسیار ساده اما بسیار مهمی را پیشنهاد داد که به عنوان قانون براگ شناخته می‌شود. این معادله، ارتباط بین طول موج پرتوهای ایکس، فاصله‌ی بین صفحات و زاویه‌ی بازتاب پرتوهای ایکس را نشان می‌دهد. درستی این معادله به کمک طیف سنج پرتوی ایکسی که توسط پدرس، ویلیام هنری براگ ساخته شده بود، نشان داده شد. یافته‌‌های این دو دانشمند، منجر به ایجاد شاخه‌ای جدید با نام کریستالوگرافی با پرتو‌ایکس گردید. این دو دانشمند، از بابت این کشف، نوبل فیزیک ۱۹۱۵ را به صورت مشترک، از آن خود کردند.